发明名称 一种光电检测电路
摘要 本发明适用于光通讯领域,提供一种光电检测电路,该电路包括增益放大电路、光电探测器、控制单元、显示单元,所述增益放大电路包括一运算放大器,所述运算放大器的反相输入端与光电探测器连接,正相输入端接地,运算放大器输出端连接到所述控制单元,所述运算放大器的反相输入端与输出端之间还连接有反馈电阻,以及至少一组调整接入电路,所述每组调整接入电路包括串接的调整电阻和CMOS开关,所述CMOS开关的控制端连接到控制单元,所述CMOS开关的工作状态受所述控制单元控制,所述反馈电阻阻值大于所述调整电阻。本发明提供的光电检测电路与现有电路相比,提高了光功率的检测范围,即使对微弱光信号也能实现精确探测。
申请公布号 CN102970076A 申请公布日期 2013.03.13
申请号 CN201210439245.5 申请日期 2012.11.07
申请人 武汉光迅科技股份有限公司 发明人 戈文杰;喻杰奎;胡强高;罗清;夏晓文;张颖;唐明星
分类号 H04B10/07(2013.01)I 主分类号 H04B10/07(2013.01)I
代理机构 北京中北知识产权代理有限公司 11253 代理人 吴琼
主权项 一种光电检测电路,包括增益放大电路(1),所述增益放大电路(1)的输入端接入有光电探测器(D),输出端顺次连接有控制单元(4)、显示单元(5),其特征在于,所述增益放大电路(1)包括一运算放大器(11),所述运算放大器(11)的反相输入端与光电探测器(D)连接,正相输入端接地,运算放大器(11)输出端连接到所述控制单元(4),所述运算放大器(11)的反相输入端与输出端之间还连接有反馈电阻(Rz),以及至少一组调整接入电路,所述每组调整接入电路包括串接的调整电阻(Rx)和CMOS开关(Sx),所述CMOS开关(Sx)的控制端连接到控制单元(4),所述CMOS开关(Sx)的工作状态受所述控制单元(4)控制,所述反馈电阻(Rz)阻值大于所述调整电阻(Rx)。
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