发明名称 一种干法刻蚀设备
摘要 本实用新型公开了一种干法刻蚀设备,Chamber中设置有颜色传感器,颜色传感器位于能与Chamber隔绝的空间中,空间通过活动挡板与Chamber保持封闭或联通;活动挡板连接于外部控制部件,控制部件控制所述活动挡板移动,使空间与所述Chamber保持封闭或联通。在有源层刻蚀(Active Etch)和过孔蚀刻(Via Etch)两个步骤中,通过所述活动挡板移动使颜色传感器暴露于Chamber中,即可对Chamber是否真空泄露进行检测,由此保证产品良率。另外,通过设置下部电极表面浮点(Embossing Dot)的分布方式,使与显示面板的像素区对应区域不设置所述表面浮点(Embossing Dot),这样表面浮点(Embossing Dot)不会对像素区域产生干扰,保证了显示面板的显示效果。
申请公布号 CN202796846U 申请公布日期 2013.03.13
申请号 CN201220397628.6 申请日期 2012.08.10
申请人 北京京东方光电科技有限公司 发明人 蒋会刚;刘华锋;刘佳;任志强;谢海征
分类号 H01J37/32(2006.01)I;H01J37/244(2006.01)I 主分类号 H01J37/32(2006.01)I
代理机构 北京派特恩知识产权代理事务所(普通合伙) 11270 代理人 张振伟;王黎延
主权项 一种干法刻蚀设备,包括反应腔,其特征在于,所述反映腔中设置有颜色传感器,所述颜色传感器位于能与所述反应腔隔绝的空间中,所述空间通过活动挡板与所述反应腔封闭或连通;所述活动挡板连接于外部控制部件,所述控制部件控制所述活动挡板移动,使所述空间与所述反应腔保持封闭或连通。
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