发明名称 光学拾取装置及其光学元件
摘要 本发明提供一种光学拾取装置及其光学元件。这种用于将具有特殊波长的激光束会聚到光盘的记录层的光学拾取的光学元件包括:基材,所述基材由树脂合成物形成;底部涂层,所述底部涂层由三个具有相同主成分的薄膜层形成,并且形成在所述基材的上表面;和功能薄膜,所述功能薄膜形成在所述底部涂层的上表面。在该配置中,所述底部涂层的第一层和第三层都是不引入氧气形成的薄膜,第二层是引入氧气时形成的薄膜。所述底部涂层的薄膜厚度处于160nm到270nm的范围内,组成所述底部涂层的薄膜的薄膜厚度基本彼此相等。
申请公布号 CN102969005A 申请公布日期 2013.03.13
申请号 CN201210313666.3 申请日期 2012.08.29
申请人 HOYA株式会社 发明人 新出谦一;小森晃;荒川和也
分类号 G11B7/135(2012.01)I;G11B7/1374(2012.01)I;G11B7/1376(2012.01)I;G02B1/11(2006.01)I 主分类号 G11B7/135(2012.01)I
代理机构 北京戈程知识产权代理有限公司 11314 代理人 程伟;王锦阳
主权项 一种用于将具有特殊波长的激光束会聚到光盘的记录层的光学拾取的光学元件,包括:基材,所述基材由树脂合成物形成;底部涂层,所述底部涂层由三个具有相同主成分的薄膜层形成,所述底部涂层形成在所述基材的上表面;和功能薄膜,所述功能薄膜形成在所述底部涂层的上表面;其中:所述底部涂层的第一层和第三层都是不引入氧气形成的薄膜,第二层是引入氧气时形成的薄膜;并且所述底部涂层的薄膜厚度处于160nm到270nm的范围内,组成所述底部涂层的薄膜的薄膜厚度基本彼此相等。
地址 日本东京都新宿区中落合二丁目7番5号