发明名称 用于等离子处理腔室的低倾斜度边缘环
摘要 本发明提供用于等离子处理腔室中的盖环的实施例。一个实施例中,用于等离子处理腔室中的盖环包括环形主体,所述环形主体由含钇(Y)材料制成。主体包括底面,所述底面具有内定位环与外定位环。内定位环比外定位环自主体延伸更远。主体包括内径壁,所述内径壁具有主要壁与次要壁,所述主要壁与次要壁由实质水平岸部分隔。主体还包括顶表面,所述顶表面具有外倾斜顶表面,所述外倾斜顶表面与内倾斜表面会合于尖端。内倾斜表面与垂直于主体的中线的线之间所界定的角度小于约70度。
申请公布号 CN102969215A 申请公布日期 2013.03.13
申请号 CN201210418026.9 申请日期 2009.09.01
申请人 应用材料公司 发明人 畅训·李;迈克尔·D·威尔沃思;焕·阮
分类号 H01J37/32(2006.01)I;H01L21/67(2006.01)I;H01L21/687(2006.01)I 主分类号 H01J37/32(2006.01)I
代理机构 北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006 代理人 徐金国;钟强
主权项 一种用于等离子处理腔室中的盖环,所述盖环包括:环形主体,所述环形主体由含钇(Y)材料所制成,所述主体包括:底面,所述底面具有内定位环与外定位环,所述内定位环比所述外定位环自所述主体延伸更远,所述内定位环具有内壁,所述内壁面对所述环形主体的中线;内径壁,所述内径壁具有主要壁与次要壁,所述主要壁与次要壁由实质水平岸部所分隔,所述次要壁具有大于所述主要壁而小于所述内定位环的内壁的直径;及顶表面,所述顶表面具有实质水平主要顶表面、实质水平内顶表面与实质水平岸部,所述主要顶表面配置于所述内顶表面外侧与上方,所述内顶表面配置于所述岸部外侧与上方。
地址 美国加利福尼亚州