发明名称 |
测试系统以及被测试元件单元 |
摘要 |
提供一种测试系统,用以对被测试元件进行测试,该测试系统包括:测试头,具有产生应供给至被测试元件的测试讯号的测试模组;性能板,载置于测试头上,以传输测试模组所产生的测试讯号;以及被测试元件单元,以可装卸的方式而搭载于性能板上,以自上述性能板向被测试元件传输测试讯号;该被测试元件单元包括:插座,用以搭载被测试元件;子板,用以封装该插座;以及框体,于内侧容纳插座以及子板,且包含阻断自外部向插座以及子板入射的杂讯的被测试元件单元侧遮罩。 |
申请公布号 |
TWI388835 |
申请公布日期 |
2013.03.11 |
申请号 |
TW097131966 |
申请日期 |
2008.08.21 |
申请人 |
爱德万测试股份有限公司 日本 |
发明人 |
宫内康司;渡边俊幸 |
分类号 |
G01R1/02;G01R31/02;G01R31/26;G01R31/28 |
主分类号 |
G01R1/02 |
代理机构 |
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代理人 |
詹铭文 台北市中正区罗斯福路2段100号7楼之1;萧锡清 台北市中正区罗斯福路2段100号7楼之1 |
主权项 |
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地址 |
日本 |