电子元件之测试方法及电子元件测试装置

摘要

电子元件测试方法，其包括：接触步骤(S100)，其将被测试电子元件(IC)的输出入端子(HB)在特定的接触位置与接触部(11)的接触端子(12)接触；微动步骤(S110)，于输出入端子(HB)和接触端子(12)接触的状态下，使输出入端子(HB)对于接触端子(12)相对地些微移动或些微回转，更使输出入端子(HB)回到接触位置，将该微动步骤执行一次，或者复数次。