发明名称 单点对焦影像量测系统及方法
摘要 本发明提供一种单点对焦影像量测方法,该方法包括步骤:(a)在待测物体的影像上选择量测点;(b)控制影像量测机台移动,并发送命令给镭射控制器,使镭射控制器控制镭射头根据所选择的量测点的X、Y轴座标值,在待测物体上寻找该量测点,并从所述镭射控制器中接收镭射头获取的该量测点到镭射头的距离h;(c)根据距离h及镭射头获取到该距离h时所在位置的座标值,计算出该量测点的座标值;及(d)根据量测点的精确的座标值,控制影像量测机台,使影像量测机台上的镜头对该量测点对焦。本发明还提供一种单点对焦影像量测系统。
申请公布号 TWI388801 申请公布日期 2013.03.11
申请号 TW096136336 申请日期 2007.09.28
申请人 鸿海精密工业股份有限公司 新北市土城区自由街2号 发明人 张旨光;蒋理
分类号 G01B9/00;G02B7/09;G02B7/28 主分类号 G01B9/00
代理机构 代理人
主权项
地址 新北市土城区自由街2号