发明名称 |
改善选择性氧化处理之氧化物成长速率的方法 |
摘要 |
本发明揭示且请求一种用于半导体元件中含矽材料之选择性氧化的方法。在一态样中,藉由在富氢气气氛中于高压下的原位蒸气产生,快速热处理设备被用来选择性氧化一基板。基板中的其他材料,诸如金属与阻障层,没有被氧化。 |
申请公布号 |
TWI389206 |
申请公布日期 |
2013.03.11 |
申请号 |
TW097136758 |
申请日期 |
2008.09.24 |
申请人 |
应用材料股份有限公司 美国 |
发明人 |
横田好隆;谭诺曼;拉马查伦巴拉苏拉马尼安;雷普利马丁约翰 |
分类号 |
H01L21/314 |
主分类号 |
H01L21/314 |
代理机构 |
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代理人 |
蔡坤财 台北市中山区松江路148号11楼;李世章 台北市中山区松江路148号11楼 |
主权项 |
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地址 |
美国 |