| 摘要 |
<p>Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Bewertung der Hochspannungsdegradation von Solarzellen und Photovoltaik-Modulen, bei welchem Verfahren in einem ersten Verfahrensschritt an eine Solarzelle bzw. ein Photovoltaik-Modul eine erste elektrische Spannung angelegt wird und nach Ablauf eines ersten Zeitintervalls eine elektrische Kenngröße der Solarzelle bzw. des Photovoltaik-Moduls gemessen wird, die Solarzelle bzw. das Photovoltaik-Modul an einen zweiten Verfahrensschritt übergeben wird, wenn die Veränderung der elektrischen Kenngröße oder der daraus abgeleiteten Hochspannungsdegradation einen vorbestimmten ersten Schwellenwert überschreitet und die Solarzelle bzw. das Photovoltaik-Modul in dem zweiten Verfahrensschritt anderen Umgebungsbedingungen als während des ersten Verfahrensschritts, bevorzugt simulierten realistischen Einsatzbedingungen, unterzogen wird und eine elektrische Kenngröße der Solarzelle bzw. des Photovoltaik-Moduls gemessen wird, anhand der die Hochspannungsdegradation der Solarzelle bzw. des Photovoltaik-Moduls bewertet wird.</p> |
