| 摘要 |
<p>Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Fluoreszenzmessung, mit den Schritten: Einstrahlen von Anregungsstrahlung (24) einer Anregungswellenlänge (?1) auf ein zu vermessendes Objekt (14), wobei das zu vermessende Objekt (14) fluoreszierendes Material (12) enthält, ortsaufgelöstes Messen einer Fluoreszenzstrahlungs-Intensität (I34) von Fluoreszenzstrahlung (34), die von der Anregungsstrahlung (24) im Objekt (14) hervorgerufen wurde und zumindest eine Fluoreszenzwellenlänge (?3) hat, Einstrahlen einer Hilfsstrahlung (30) mit zumindest einer Hilfsstrahlungswellenlänge (?2) auf das zu vermessende Objekt (14), wobei die Hilfsstrahlungswellenlänge (?2) größer ist als die Anregungswellenlänge (?1), ortsaufgelöstes Ermitteln einer Hilfsstrahlungs-Intensität (I30) gestreuter Hilfsstrahlung (30) und Ermitteln eines ortsaufgelösten Parameters (P), der ein Maß für die Konzentration (c) an fluoreszierendem Material (12) ist, aus der Fluoreszenzstrahlungs-lntensität (I34) und der Hilfsstrahlungs-Intensität (I30), wobei das ortsaufgelöste Ermitteln der Hilfsstrahlungs-Intensität (I30) und das ortsaufgelöstes Messen der Fluoreszenzstrahlungs-Intensität (I34) ein Unterdrücken von gestreuter Anregungsstrahlung (24) umfasst.</p> |
