| 发明名称 | 光学测量设备和芯片寿命判断方法 | ||
| 摘要 | 本发明提供了一种光学测量设备和芯片寿命判断方法。该光学测量设备包括光照射部，其被配置为将光照射到流过可拆卸芯片中的流路的样品上；光检测部，其被配置为检测当被光照射部用光照射时从样品发出的光信息；以及判断部，其被配置为基于通过光检测部检测到的光信息，判断出芯片更换时期。 | ||
| 申请公布号 | CN102954964A | 申请公布日期 | 2013.03.06 |
| 申请号 | CN201210276409.7 | 申请日期 | 2012.08.03 |
| 申请人 | 索尼公司 | 发明人 | 村木洋介 |
| 分类号 | G01N21/84(2006.01)I | 主分类号 | G01N21/84(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 | 代理人 | 余刚;吴孟秋 |
| 主权项 | 一种光学测量设备，包括：光照射部，其被配置为将光照射到流过可拆卸芯片中的流路的样品上；光检测部，其被配置为检测当被所述光照射部用光照射时从所述样品发出的光信息；以及判断部，其被配置为基于通过所述光检测部检测到的所述光信息，判断出所述芯片的更换时期。 | ||
| 地址 | 日本东京 | ||