发明名称 一种半导体分立器件测试系统
摘要 本实用新型主要公开了一种半导体分立器件测试系统,包括主控平台系统、总线通讯系统、各个测试功能卡、显示系统。各测试功能模块独立挂置在总线通讯系统上,总线通讯系统连接到主控平台系统中,主控平台系统连接显示系统,将测试结果数据加以显示。本实用新型是一种自由组合形式提供测试服务的测试平台,可根据用户的测试组态方案类选择各色各样测试功能的板卡,使用灵活方便。
申请公布号 CN202770958U 申请公布日期 2013.03.06
申请号 CN201220445842.4 申请日期 2012.09.04
申请人 绍兴文理学院 发明人 张新华;张若煜
分类号 G01R31/26(2006.01)I 主分类号 G01R31/26(2006.01)I
代理机构 绍兴市越兴专利事务所 33220 代理人 蒋卫东
主权项 一种半导体分立器件测试系统,其特征在于:包括主控平台系统、总线通讯系统、各个测试功能卡、显示系统;各测试功能模块独立挂置在总线通讯系统上,总线通讯系统连接到主控平台系统中,主控平台系统连接显示系统,将测试结果数据加以显示。
地址 312000 浙江省绍兴市越城区环城西路508号绍兴文理学院
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