发明名称 测试插座之制作方法及其所使用的弹性测试探针
摘要 本发明提供一种测试插座之制作方法及其所使用的弹性测试探针,包含:提供一非金属材质之基板;披覆至少一牺牲层在基板上;披覆至少一光阻层在牺牲层上;在光阻层进行光微影制程以移除部分的光阻层,藉以形成复数个柱状凸起;在前述之复数个柱状凸起的表面披覆一层表面金属层,藉以形成复数个弹性测试探针;提供一插座本体,其具有对应于前述之复数个弹性测试探针的复数个开口;移除牺牲层,以取下测试插座,且其已套入前述之复数个弹性测试探针;各弹性测试探针具有以光阻材料形成的弹性本体与可导电的表面。
申请公布号 TWI387753 申请公布日期 2013.03.01
申请号 TW097148353 申请日期 2008.12.12
申请人 京元电子股份有限公司 新竹市公道五路2段81号 发明人 赵本善
分类号 G01R1/067;G01R31/26 主分类号 G01R1/067
代理机构 代理人 陈培道 新竹县竹东镇中兴路4段195号53馆219室
主权项
地址 新竹市公道五路2段81号