液晶单元之光学特性量测系统及其方法

摘要

本发明涉及一种液晶单元之光学特性量测系统，包含发出一具有复数波长之发射光之一光源、一用于将该发射光转换为一投射于该待测件之偏振光束之投光探头、一具一第二穿透轴且用于分析从该偏振光束穿透该待测件后而产生之一偏振光束之偏振态之收光探头、一用于获取该偏振光束之光谱讯号之光谱仪，以及一用于以复数个该光谱讯号及与各该光谱讯号相对应之复数个转动角度计算该待测件之光轴方位角度及/或相位差分布之讯号分析单元。