发明名称 |
一种电子型氮铟镓n-In<sub>x</sub>Ga<sub>1-x</sub>N薄膜及其制备 |
摘要 |
一种电子型氮铟镓n-InxGa1-xN薄膜,化学分子式为InxGa1-xN,式中x为0.05-0.3,导电类型为n型,即Si掺杂电子型,薄膜厚度为0.6-1.5µm;其制备方法是:在MOCVD沉积系统的进样室中,对衬底表面进行等离子体清洗,然后在MOCVD沉积系统的沉积室中,采用MOCVD工艺在衬底表面沉积一层掺Si的n-InxGa1-xN薄膜。本发明的优点是:电子型氮铟镓n-InxGa1-xN薄膜,对应于太阳光谱具有几乎完美的匹配带隙,为利用单一半导体材料来设计、制备更为高效的多结太阳电池提供了可能,且其吸收系数高,载流子迁移率高,抗辐射能力强;其制备工艺简单易行,有利于大规模推广应用。 |
申请公布号 |
CN102943248A |
申请公布日期 |
2013.02.27 |
申请号 |
CN201210459071.9 |
申请日期 |
2012.11.14 |
申请人 |
天津理工大学 |
发明人 |
薛玉明;潘宏刚;宋殿友;朱亚东;刘君;辛治军;冯少君;尹振超;张嘉伟;刘浩;尹富红 |
分类号 |
C23C16/34(2006.01)I;C30B25/02(2006.01)I;C30B29/38(2006.01)I |
主分类号 |
C23C16/34(2006.01)I |
代理机构 |
天津佳盟知识产权代理有限公司 12002 |
代理人 |
侯力 |
主权项 |
一种电子型氮铟镓n‑InxGa1‑xN薄膜,其特征在于:化学分子式为InxGa1‑xN,式中x为0.05‑0.3,导电类型为n型,即Si掺杂电子型;该氮铟镓n‑InxGa1‑xN薄膜沉积在衬底上,薄膜厚度为0.6‑1.5μm。 |
地址 |
300384 天津市西青区宾水西道391号天津理工大学主校区 |