发明名称 一种小型屏蔽腔体屏蔽效能的测试方法
摘要 本发明是一种小型屏蔽腔体屏蔽效能的测试方法。其特征是:屏蔽暗室和屏蔽室是由金属壁板隔成的两个腔体,屏蔽暗室的壁面上设置吸波材料屏蔽暗室和屏蔽室都单独接大地;接收仪设置在屏蔽室内,其余设备设置在屏蔽暗室内,双向射频连接器设置在金属壁板壁面上;近场测试天线设置在屏蔽暗室内,近场测试天线通过同轴线缆依次金属壁板壁面上的双向射频连接器以及接收仪导通;发射天线通过同轴线缆依次与前置放大器和信号源导通,它们设置在屏蔽室内,且发射天线的中心对近场测试天线的中心;并通过测直通接收值、测射频泄漏量及计算屏蔽效能三个步骤实现。该方法简单、准确。
申请公布号 CN102944780A 申请公布日期 2013.02.27
申请号 CN201210437678.7 申请日期 2012.11.06
申请人 西安开容电子技术有限责任公司 发明人 宋博
分类号 G01R31/00(2006.01)I;G01R29/08(2006.01)I 主分类号 G01R31/00(2006.01)I
代理机构 西安吉盛专利代理有限责任公司 61108 代理人 张培勋
主权项 一种小型屏蔽腔体屏蔽效能的测试方法,他的设备至少包括近场测试天线(1)、双向射频连接器(2)、发射天线(3)、前置放大器(6)、信号源(7)、接收仪(8)、同轴线缆(9)以及屏蔽暗室(10)和屏蔽室(11),其特征是:屏蔽暗室(10)和屏蔽室(11)是由金属壁板(13)隔成的两个腔体,屏蔽暗室(10)的壁面上设置吸波材料(12)屏蔽暗室(10)和屏蔽室(11)都单独接大地;接收仪(8)设置在屏蔽室(11)内,其余设备设置在屏蔽暗室(10)内,双向射频连接器(2)设置在金属壁板(13)壁面上;近场测试天线(1)设置在屏蔽暗室(10)内,近场测试天线(1)通过同轴线缆(9)依次金属壁板(15)壁面上的双向射频连接器(2)以及接收仪(8)导通;发射天线(3)通过同轴线缆(9)依次与前置放大器(6)和信号源(7)导通,它们设置在屏蔽室(10)内,且发射天线(3)的中心对近场测试天线(1)的中心;这种小型屏蔽腔体屏蔽效能的测试方法按照如下的步骤进行:步骤1,测直通接收值;信号源(7)发出信号,入射信号经前置放大器(6)后,由发射天线(3)发射,再由近场测试天线(1)接收,并通过双向射频连接器(2)将信号传递至接收仪(8),接收仪(8)得到天线水平极化和垂直极化的数据,即为直通接收值;步骤2,测射频泄漏量;将近场测试天线(1)设置在绝缘天线托盘上,并放置在被测腔体(14)内部,其中心对准被测腔体(14)接收面,近场测试天线(1)距被测腔体(14)接收面为d;同时被测腔体(14)壁面上安装双向射频连接器(2),同轴线缆(9)将近场测试天线(1)与被测腔体(14)面上的双向射频连接器(2)、金属壁板(13)面上的双向射频连接器(2)以及接收仪(8)依次导通;被测腔体(14)于屏蔽暗室(10)内,发射天线(3)在被测腔体(14)外,且发射天线(3)的中心对被测腔体(14)接收面,发射天线(3)与被测腔体(14)接收面的距离为D;设置好被测腔体后,信号源(7)发出信号,入射信号经前置放大器(6)后,由发射天线(3)发射,入射波穿过被测腔体(14)的接收面后,再由近场测试天线(1)接收,并通过两个双向射频连接器(2)将信号传递至接收仪(8),接收仪8得到此时天线水平极化和垂直极化的数据,为被测腔体(14)接收面的射频泄漏量;步骤3,计算屏蔽效能;使用步骤1中得到的直通接收值减去步骤2中得到的射频泄漏量,计算后得出被测腔体(14)接收面的屏蔽效能。
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