| 发明名称 | 存储设备测试系统内的阻尼振动 | ||
| 摘要 | 本发明公开了一种包括壳体的存储设备测试槽。所述壳体限定用于接纳要进行测试的存储设备的测试室。一个或多个调谐质量阻尼器连接到所述壳体。所述一个或多个调谐质量阻尼器被构造为抑制所述壳体以一种或多种预定频率振动。 | ||
| 申请公布号 | CN102947886A | 申请公布日期 | 2013.02.27 |
| 申请号 | CN201180029951.6 | 申请日期 | 2011.06.14 |
| 申请人 | 泰拉丁公司 | 发明人 | 彼得·马蒂诺 |
| 分类号 | G11B20/18(2006.01)I;G11B33/08(2006.01)I | 主分类号 | G11B20/18(2006.01)I |
| 代理机构 | 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 | 代理人 | 戚传江;穆德骏 |
| 主权项 | 一种存储设备测试槽，包括：壳体，其限定用于接纳要进行测试的存储设备的测试室；以及连接到所述壳体的一个或多个调谐质量阻尼器，所述一个或多个调谐质量阻尼器被构造为抑制所述壳体以一种或多种预定频率振动。 | ||
| 地址 | 美国马萨诸塞州 | ||