| 摘要 |
本发明提供一种测试装置，其包括：驱动器，将测试信号输出至被测试元件中；第1FET开关，切换是否连接驱动器与被测试元件；比较器，利用第1FET开关接收被测试元件的输出信号，并将输出信号的电压与预先规定的参考电压进行比较；参考电压输入部，将参考电压输入至比较器中；第2FET开关，设置于参考电压输入部与比较器之间；以及虚设电阻，一端连接于比较器以及第2FET开关的连接点，另一端连接于规定的电位，且驱动器的输出电阻以及第1FET开关的接通电阻的电阻比，与虚设电阻以及第2FET开关的接通电阻的电阻比大致相等。 |
