发明名称 测试工具资料分析
摘要 本发明提供一种透过至少两条不同相交测试路径来找出各种电路系统区块以收集与分析积体电路测试工具测试资料的系统及方法。在一实施例中,该等制程测试电路可以排列成矩阵格式并且互相连接以便可沿着列或行来进行测试。当沿着一特定列及一特定行找到一失效事故时,位于该交点处之制程测试电路便可被视为一失效事故点。
申请公布号 TWI386663 申请公布日期 2013.02.21
申请号 TW095108042 申请日期 2006.03.10
申请人 LSI公司 美国 发明人 理查 舒兹;盖洛 许普雷;黛洛 欧曼
分类号 G01R31/26;G06F19/00 主分类号 G01R31/26
代理机构 代理人 桂齐恒 台北市中山区长安东路2段112号9楼;阎启泰 台北市中山区长安东路2段112号9楼
主权项
地址 美国