发明名称 量测校准装置及其辅助台座
摘要 一种量测校准装置及其辅助台座,该辅助台座主要系以叠层的方式分别设有基座、第一平台以及第二平台,该基座系以磁吸或锁设的方式固定于机台之工作台上,于基座的上方则以第一方向滑轨架设第一平台,并于基座与第一平台间设有第一位移驱动机构,以驱动第一平台作第一方向的位移,另于第一平台的上方以第二方向滑轨架设第二平台,并于第一平台与第二平台间设有第二位移驱动机构,以驱动第二平台作第二方向的位移;藉此,将量测校准装置固定于第二平台上进行误差量测作业时,可利用第一平台或第二平台的位移,辅助进行雷射光束的光路调校,进而达到易于操作且快速准确调校之目的。
申请公布号 TWI386275 申请公布日期 2013.02.21
申请号 TW098143691 申请日期 2009.12.18
申请人 财团法人金属工业研究发展中心 高雄市楠梓区高楠公路1001号 发明人 吴金舫;吕育廷;许富铨;庄殷
分类号 B23Q17/22;B23Q17/24 主分类号 B23Q17/22
代理机构 代理人 陈瑞田 高雄市凤山区建国路3段256之1号;康清敬 高雄市凤山区建国路3段256之1号
主权项
地址 高雄市楠梓区高楠公路1001号