发明名称 |
量测校准装置及其辅助台座 |
摘要 |
一种量测校准装置及其辅助台座,该辅助台座主要系以叠层的方式分别设有基座、第一平台以及第二平台,该基座系以磁吸或锁设的方式固定于机台之工作台上,于基座的上方则以第一方向滑轨架设第一平台,并于基座与第一平台间设有第一位移驱动机构,以驱动第一平台作第一方向的位移,另于第一平台的上方以第二方向滑轨架设第二平台,并于第一平台与第二平台间设有第二位移驱动机构,以驱动第二平台作第二方向的位移;藉此,将量测校准装置固定于第二平台上进行误差量测作业时,可利用第一平台或第二平台的位移,辅助进行雷射光束的光路调校,进而达到易于操作且快速准确调校之目的。 |
申请公布号 |
TWI386275 |
申请公布日期 |
2013.02.21 |
申请号 |
TW098143691 |
申请日期 |
2009.12.18 |
申请人 |
财团法人金属工业研究发展中心 高雄市楠梓区高楠公路1001号 |
发明人 |
吴金舫;吕育廷;许富铨;庄殷 |
分类号 |
B23Q17/22;B23Q17/24 |
主分类号 |
B23Q17/22 |
代理机构 |
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代理人 |
陈瑞田 高雄市凤山区建国路3段256之1号;康清敬 高雄市凤山区建国路3段256之1号 |
主权项 |
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地址 |
高雄市楠梓区高楠公路1001号 |