发明名称 |
薄膜光学检测装置 |
摘要 |
一种薄膜光学检测装置,适于检测一薄膜制品,此薄膜光学检测装置至少包括多波长光源、分光准直模组、多通道极化旋转模组、多通道相位延迟模组、合光准直模组、偏极化模组以及影像光谱仪。多波长光源提供具有多个波段之光束至分光准直模组,而分光准直模组适于将光束分为多个具有对应波段之次光束。多通道极化旋转模组适于分别调整这些次光束偏振之方位角,而多通道相位延迟模组适于分别调整这些次光束之相位延迟量或是相位延迟的方位角。合光准直模组适于将这些次光束合为聚合光束后入射薄膜制品,而偏极化模组适于检偏限制聚合光束不同偏振态之穿透量,且影像光谱仪适于接收聚合光束呈多波长影像。 |
申请公布号 |
TWI386638 |
申请公布日期 |
2013.02.21 |
申请号 |
TW097140979 |
申请日期 |
2008.10.24 |
申请人 |
财团法人工业技术研究院 新竹县竹东镇中兴路4段195号;明志科技大学 新北市泰山区工专路84号 |
发明人 |
吴骏逸;王浩伟;谢易辰;庄凯评;杨富翔 |
分类号 |
G01N21/17;G01N21/88;G01B11/06;G01N21/41 |
主分类号 |
G01N21/17 |
代理机构 |
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代理人 |
刘纪盛 台北市信义区松德路171号2楼;谢金原 台北市信义区松德路171号2楼 |
主权项 |
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地址 |
新北市泰山区工专路84号 |