发明名称 |
玻璃基板、使用该玻璃基板的检测方法、以及制作该玻璃基板的矩阵光罩 |
摘要 |
一种玻璃基板,其包括多个面板结构以及多个测试元件。面板结构彼此分离,其中每一面板结构包括黑色矩阵以及彩色滤光层。黑色矩阵于玻璃基板上定义出多个画素单元。彩色滤光层配置于画素单元上。多个测试元件位于面板结构的外围,测试元件具有多个拟画素单元,拟画素单元的图案与画素单元的图案不尽相同,且拟画素单元中具有一标准缺陷图案。另外,本发明亦提出一种使用上述玻璃基板的检测方法、以及制作该玻璃基板的矩阵光罩。 |
申请公布号 |
TWI386642 |
申请公布日期 |
2013.02.21 |
申请号 |
TW098121853 |
申请日期 |
2009.06.29 |
申请人 |
深超光电(深圳)有限公司 中国 |
发明人 |
潘星佑 |
分类号 |
G01N21/896 |
主分类号 |
G01N21/896 |
代理机构 |
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代理人 |
詹铭文 台北市中正区罗斯福路2段100号7楼之1;萧锡清 台北市中正区罗斯福路2段100号7楼之1 |
主权项 |
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地址 |
中国 |