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Die Erfindung betrifft ein Satelliten-Testsystem, welches insbesondere zum Testen und/oder Simulieren von Satelliten-Systemen – vor allem Pyro- und/oder Thermosystemen eines Satelliten – geeignet ist. Bei diesem Satelliten-Testsystem ist ein zweipoliger Anschluss (A1, A2) – beispielsweise zum Messen von analogen Messwerten (z.B. Spannungen) – vorgesehen. Die beiden Pole (A1, A2) dieses zweipoligen Anschlusses (A1, A2) sind über einen Spannungsteiler aus einem gesteuerten Widerstand (FET) und einem weiteren Widerstand (R1) in der Weise verbunden sind, dass der Anschluss (A1, A2) in Abhängigkeit von der Ansteuerung (MDAC, Uref, OPV1) des gesteuerten Widerstandes (FET) sowohl als zweipoliger Messeingang als auch als Spannungsquelle verwendbar ist. Auf diese Weise kann der zweipolige Anschluss (A1, A2) bzw. das Satelliten-Testsystem in vorteilhafter Weise als Plattform für verschiedene Mess- und/oder Testaufgaben eingesetzt werden. Mit dem Satelliten-Testsystem bzw. über dessen zweipoligen Anschluss (A1, A2) können auf einfache Weise z.B. eine variable Anzahl an Pyro- und/oder Thermistorschnittstellen getestet bzw. gemessen oder Thermoelemente zu Testzwecken simuliert werden. |
