发明名称 MEASUREMENT METHOD FOR HEIGHT PROFILES OF SURFACES
摘要 <p>Ein Verfahren zur optischen Messung von Höhenprofilen von Oberflächen, bei welchem ein Bild des Höhenprofils mit einem optischen Aufnahmesystem aufgenommen wird, ist dadurch gekennzeichnet, dass das Bild ein Differentialinterferenzkontrastbild ist und Höhengradienten innerhalb des Höhenprofils durch Intensitätsgradienten repräsentiert sind, welche quantitativ oder qualitativ auswertbar sind. Die Oberflächen können Strukturen mit einem definierten Profil aufweisen, bei denen Intensitätsgradienten im Differentialinterferenzkontrastbild, die innerhalb einer vorgegebenen Toleranz und innerhalb eines vorgegebenen Bereichs einen von einem Soll-Wert abweichenden Wert oder einen innerhalb einer vorgegebenen Toleranz und innerhalb eines vorgegebenen Bereichs liegenden, ausgewählten Wert, insbesondere Null, annehmen, einen Defekt anzeigen.</p>
申请公布号 WO2013023988(A1) 申请公布日期 2013.02.21
申请号 WO2012EP65595 申请日期 2012.08.09
申请人 HSEB DRESDEN GMBH;SROCKA, BERND;SCHMIDT, CHRISTINE;LANGHANS, RALF 发明人 SROCKA, BERND;SCHMIDT, CHRISTINE;LANGHANS, RALF
分类号 G02B21/14 主分类号 G02B21/14
代理机构 代理人
主权项
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