发明名称 |
采样部件、进样装置及离子迁移谱仪 |
摘要 |
本发明公开一种采样部件,采样部件包括采样本体,所述采样本体能够被通电加热且所述采样本体的外表面上具有擦拭采样区;以及绝缘手柄,所述绝缘手柄与采样本体的纵向一端相连。根据本发明的采样部件置入解析腔后直接与外接电源的触点相接触,接通电源加热采样本体,从而实现样品解析,而采样部件取走时立刻断电。这样,可使进样器的电源实现间断工作,减小系统功耗,同时可避免因进样装置长期高温工作导致的系统故障。本发明还公开一种具有上述采样部件的进样装置和具有该进样装置的离子迁移谱仪。 |
申请公布号 |
CN102109434B |
申请公布日期 |
2013.02.20 |
申请号 |
CN200910243787.3 |
申请日期 |
2009.12.24 |
申请人 |
同方威视技术股份有限公司 |
发明人 |
王耀昕;张阳天;林津;薛斌;贺文;彭华;焦鹏 |
分类号 |
G01N1/44(2006.01)I;G01N27/62(2006.01)I |
主分类号 |
G01N1/44(2006.01)I |
代理机构 |
北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201 |
代理人 |
宋合成 |
主权项 |
一种采样部件,其特征在于,包括:采样本体,所述采样本体能够被通电加热且所述采样本体的外表面上具有擦拭采样区;以及绝缘手柄,所述绝缘手柄与所述采样本体的纵向一端相连;沿所述采样本体的纵向方向在擦拭采样区的两侧分别设有第一和第二触点。 |
地址 |
100084 北京市海淀区双清路同方大厦A座2层 |