发明名称 | 开口阱质谱仪 | ||
摘要 | 针对利用宽且发散的离子包的操作公开了一种开口静电阱质谱仪。检测器上的信号由对应于各种离子循环(称为多重谱)的信号构成。使用多重谱内的相对强度的可再现分布,可以针对较稀疏的谱(例如,通过级联质谱仪的裂解单元、经过离子迁移率和差分离子迁移率分离器的谱)对信号进行解扰。针对具体的脉冲离子源和脉冲转换器(例如,正交加速器、离子导向器和离子阱)提供各种实施例。本方法和设备提高了脉冲转换器的占空比,改进了开口阱分析仪的空间电荷容限,并且扩展了飞行时间检测器的动态范围。 | ||
申请公布号 | CN102939638A | 申请公布日期 | 2013.02.20 |
申请号 | CN201080065023.0 | 申请日期 | 2010.12.30 |
申请人 | 莱克公司 | 发明人 | 阿纳托利·韦列奇科夫 |
分类号 | H01J49/40(2006.01)I | 主分类号 | H01J49/40(2006.01)I |
代理机构 | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 | 代理人 | 陈芳 |
主权项 | 一种质谱分析的方法,包括下述步骤:(a)使离子包通过提供同步离子振荡的静电场、射频场或磁场;(b)记录与整数个离子振荡循环的跨度相对应的飞行时间谱(多重谱);以及(c)由包含多重谱的信号重构质谱,其中,重构的质谱能够用于质谱分析。 | ||
地址 | 美国密执安州 |