发明名称 |
自动芯片测试机测试座 |
摘要 |
本实用新型涉及一种芯片测试座,尤其是安装于自动芯片测试机上的自动芯片测试机测试座。包括一圆形底盘,所述的圆形底板上设有沿圆周排列的测试座,所述的圆形底盘与测试座之间设有绝缘板。本实用新型中的自动芯片测试机测试座将测试座以圆周方式排列与圆形底盘上,在进行自动测试的时候,转动底部圆形底盘即可依次对圆周上的各个测试座上的芯片进行测试,实现了连续检测时,进料、出料和检测部分能够同步进行,这样可让测试机减少对进料、出料工序的等待时间;充分节约整个连续测试工作的时间。圆周式排布,还缩小了整体自动芯片测试机的体积,减少了机器占用的空间,更有利于设备的安排和摆放。 |
申请公布号 |
CN202748383U |
申请公布日期 |
2013.02.20 |
申请号 |
CN201120497272.9 |
申请日期 |
2011.12.02 |
申请人 |
金英杰 |
发明人 |
金英杰 |
分类号 |
G01R1/04(2006.01)I |
主分类号 |
G01R1/04(2006.01)I |
代理机构 |
|
代理人 |
|
主权项 |
一种自动芯片测试机测试座,其特征在于:包括一圆形底盘,所述的圆形底板上设有沿圆周排列的测试座,所述的圆形底盘与测试座之间设有绝缘板。 |
地址 |
518000 广东省深圳市福田区汇龙花园1栋瑞龙阁401 |