发明名称 一种光刻机真空曝光装置
摘要 本发明是一种光刻机真空曝光装置,包括:掩模台、掩模板、硅片、密封胶圈、承片台、两个气嘴、柔性铰链、升降台、第一气嘴和真空气嘴;掩模板放在掩模台上,硅片放在承片台上,密封胶圈套在承片台的外侧,承片台通过柔性铰链与升降台相连;掩摸台位于承片台上方,掩摸台上开有V形槽,承片台上开有V形槽,通过对在掩模台上的V形槽与承片台上的V形槽进行抽真空操作,使硅片与掩摸板有良好接触。能够使待曝光的硅片处于真空环境中,克服了其他气体对光刻产生的光折射或反射的影响,提高了硅片的光刻分辨率。
申请公布号 CN102012642B 申请公布日期 2013.02.20
申请号 CN201010605511.8 申请日期 2010.12.27
申请人 中国科学院光电技术研究所 发明人 邢薇;胡松;赵立新;徐文祥;胡淘;陈磊
分类号 G03F7/20(2006.01)I 主分类号 G03F7/20(2006.01)I
代理机构 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人 梁爱荣
主权项 一种光刻机真空曝光装置,其特征在于包括:掩模台(1)、掩模板(2)、硅片(3)、密封胶圈(4)、承片台(5)、两个气嘴(6)、柔性铰链(7)、升降台(8)、第一气嘴(9)和真空气嘴(10);掩模板(2)放在掩模台(1)上,硅片(3)放在承片台(5)上,密封胶圈(4)套在承片台(5)的外侧,承片台(5)通过柔性铰链(7)与升降台(8)相连;掩模台(1)位于承片台(5)上方,掩模台(1)上开有第一V形槽(11),承片台(5)上设有N个第二V形槽,通过对在掩模台(1)上的第一V形槽(11)与承片台(5)上的N个第二V形槽进行抽真空操作,使硅片(3)与掩模板(2)有良好接触;根据硅片的尺寸大小确定第二V形槽的数量为N≥3;所述掩模台(1)为正方形并在其四周设有穿透掩模台(1)的第一V形槽(11),第一V形槽(11)为四方形结构,第一V形槽(11)具有两侧壁,并在第一V形槽(11)的一侧壁上设有一个穿透掩模台(1)的圆孔,在穿透掩模台(1)的圆孔口端装有一第一气嘴(9)供掩模台(1)抽真空用;当掩模板(2)放在掩模台(1)上时,掩模板(2)将掩模台(1)上的第一V形槽(11)完全覆盖住,并通过第一气嘴(9)对掩模台(1)进行抽真空,使掩模板(2)将会被牢固的吸在掩模台(1)上;当掩模板(2)与硅片(3)接触时不会被硅片(3)顶跑、顶偏而产生位移;所述承片台(5)上的N个第二V形槽为不穿透承片台(5)的V形槽,两个圆形孔(51、52)穿透承片台(5),在两个圆形孔(51、52)下方各固接有一个气嘴(6),以供承片台(5)抽真空用,硅片(3)放在承片台(5)上面时,会将承片台(5)表面上的N个第二V形槽遮盖住,此时,通过两个气嘴(6)对承片台(5)进行抽真空,硅片(3)将会被牢固的吸在承片台(5)上,当硅片(3)与掩模板(2)接触时不会产生位移;所述密封胶圈(4)是套在承片台(5)的外侧,并且密封胶圈(4)略高于承片台(5),密封胶圈(4)高度的余量既要保证硅片(3)在 上升贴近掩模台(1)时密封胶圈(4)的胶皮不起皱打折,使硅片(3)与掩模板(2)有良好接触,又要保证胶皮在贴近掩模台(1)时翻开并与掩模台(1)贴紧有良好的密封性,在通过真空气嘴(10)抽真空时保证掩模板(2)与硅片(3)之间有足够的真空度,并且密封胶圈(4)也可以防止硅片(3)与掩模台(1)的硬接触而损坏硅片(3)。
地址 610209 四川省成都市双流350信箱
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