发明名称 |
存储设备中的失真估计和消除 |
摘要 |
一种用于操作存储器(28)的方法,包括将数据作为相应的第一电压电平存储在存储器的一组模拟存储单元(32)中。在存储所述数据之后,从相应的模拟存储单元读取第二电压电平。第二电压电平受到交叉耦合干扰的影响,该交叉耦合干扰导致第二电压电平不同于相应的第一电压电平。通过处理第二电压电平来估计对模拟存储单元之间的交叉耦合干扰进行量化的交叉耦合系数。使用所估计的交叉耦合系数,从所读取的第二电压电平重构存储在该组模拟存储单元中的数据。 |
申请公布号 |
CN101496110B |
申请公布日期 |
2013.02.13 |
申请号 |
CN200780026121.1 |
申请日期 |
2007.05.10 |
申请人 |
苹果公司 |
发明人 |
O·沙尔维;N·萨莫;E·格吉;A·梅斯罗斯 |
分类号 |
G11C29/00(2006.01)I;H03M13/00(2006.01)I;G11C16/04(2006.01)I |
主分类号 |
G11C29/00(2006.01)I |
代理机构 |
中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 |
代理人 |
鲍进 |
主权项 |
一种用于操作存储器的方法,包括:将数据作为相应的第一电压电平存储在所述存储器的一组模拟存储单元中,所述第一电压电平选自可能的值的集合;在存储所述数据之后,从所述模拟存储单元读取相应的第二电压电平,该第二电压电平受到交叉耦合干扰的影响,该交叉耦合干扰导致所述第二电压电平不同于所述相应的第一电压电平;处理所述第二电压电平以获得相应的硬判决,每个硬判决均对应于所述第一电压电平的可能的值中的相应值;基于所述第二电压电平和所述相应的硬判决估计交叉耦合系数,该交叉耦合系数量化所述模拟存储单元之间的交叉耦合干扰;以及使用所估计的交叉耦合系数,从所读取的第二电压电平重构存储在该组模拟存储单元中的数据。 |
地址 |
美国加利福尼亚 |