发明名称 |
一种大样本快速三维显微成像的方法和系统 |
摘要 |
本发明涉及一种大样本快速三维显微成像的方法及系统,本发明方法:(1)样本包埋在样本块中固定在精密三维电动平移台上;(2)数字微镜阵列工作在二值调制的模式下,对照明光进行二值调制,形成结构光条纹,结构光显微镜采集样本表层1-100微米深度内的图像;(3)完成成像区域内表层的成像后,利用金刚石或硬质合金刀具,去除样本块表层已成像部分;(4)重复步骤(2)和步骤(3),直到完成数据获取任务。本发明的数字微镜阵列工作在二值调制的模式下,有效加快成像速度;通过数字微镜阵列与面阵相机的曝光同步方法,使得只有在面阵相机曝光时样本才会接受到激发光的照射,进一步降低样本的曝光量,避免光漂白效应对成像带来负面影响。 |
申请公布号 |
CN102928970A |
申请公布日期 |
2013.02.13 |
申请号 |
CN201210402820.4 |
申请日期 |
2012.10.19 |
申请人 |
华中科技大学 |
发明人 |
骆清铭;龚辉;许冬力;李安安 |
分类号 |
G02B21/00(2006.01)I;G02B21/06(2006.01)I;G02B21/36(2006.01)I |
主分类号 |
G02B21/00(2006.01)I |
代理机构 |
武汉开元知识产权代理有限公司 42104 |
代理人 |
唐正玉 |
主权项 |
一种大样本快速三维显微成像的方法,其特征在于包括以下步骤:(1)样本包埋在样本块中,固定在精密三维电动平移台之上;(2)数字微镜阵列工作在二值调制的模式下,对照明光进行二值调制,形成结构光条纹,结构光显微镜采集样本表层1-100微米深度内的图像;(3)完成成像区域内表层的成像后,利用金刚石或硬质合金刀具,去除样本块表层已成像部分;(4)重复步骤(2)和步骤(3),直到完成数据获取任务。 |
地址 |
430074 湖北省武汉市洪山区珞喻路1037号 |