发明名称 极端温度条件下经纬仪水平一测回精度测试系统
摘要 本发明涉及一种极端温度条件下经纬仪水平一测回精度测试系统,该测试系统包括数据采集控制计算机、自准直仪、恒温试验箱、多齿分度台以及与待测经纬仪固定连接的平面反射镜;多齿分度台设置在恒温试验箱内部并与数据采集控制计算机通过线缆电性连接;恒温试验箱的侧壁上设置有光学窗口;待测经纬仪设置在多齿分度台上;自准直仪通过光学窗口与平面反射镜相对并处于等高位置;数据采集控制计算机分别与多齿分度台以及自准直仪相连。本发明提供了一种自动化程度高、测量精度高以及稳定性高的极端温度条件下经纬仪水平一测回精度测试系统。
申请公布号 CN102927992A 申请公布日期 2013.02.13
申请号 CN201210377667.4 申请日期 2012.10.08
申请人 中国科学院西安光学精密机械研究所 发明人 潘亮;赵建科;张周锋;田留德;高博;段炯
分类号 G01C25/00(2006.01)I 主分类号 G01C25/00(2006.01)I
代理机构 西安智邦专利商标代理有限公司 61211 代理人 姚敏杰
主权项 一种极端温度条件下经纬仪水平一测回精度测试系统,其特征在于:所述极端温度条件下经纬仪水平一测回精度测试系统包括数据采集控制计算机、自准直仪、恒温试验箱、多齿分度台以及与待测经纬仪固定连接的平面反射镜;所述多齿分度台设置在恒温试验箱内部并与数据采集控制计算机通过线缆电性连接;所述恒温试验箱的侧壁上设置有光学窗口;待测经纬仪设置在多齿分度台上;所述自准直仪通过光学窗口与平面反射镜相对并处于等高位置;所述数据采集控制计算机分别与多齿分度台以及自准直仪相连。
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