发明名称 |
于半导体装置中形成应变通道之方法 |
摘要 |
一种于半导体装置中形成应变通道之方法,包括下列步骤:提供一电晶体,该电晶体包括:一闸极堆叠物,具有设置于一半导体基底上之一闸极;一对源极/汲极区,设置于邻近该闸极堆叠物之对应侧之该半导体基底内;以及一间隔物,对应地设置于该闸极堆叠物之一侧壁上。接着形成一保护层,覆盖该闸极与该间隔物。接着于该些源极/汲极区内分别形成一凹陷区,其中该凹陷区之一边对准于该间隔物之一外侧边。接着于该些凹陷区内填入一应变诱发材料,以于介于该些源极/汲极区之间之该半导体基底内形成一应变通道区。 |
申请公布号 |
TWI385735 |
申请公布日期 |
2013.02.11 |
申请号 |
TW096125062 |
申请日期 |
2007.07.10 |
申请人 |
台湾积体电路制造股份有限公司 新竹市新竹科学工业园区力行六路8号 |
发明人 |
廖先钏;潘国华;陈永修;章勋明;林宜经 |
分类号 |
H01L21/336 |
主分类号 |
H01L21/336 |
代理机构 |
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代理人 |
洪澄文 台北市南港区三重路19之6号2楼;颜锦顺 台北市南港区三重路19之6号2楼 |
主权项 |
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地址 |
新竹市新竹科学工业园区力行六路8号 |