发明名称 于半导体装置中形成应变通道之方法
摘要 一种于半导体装置中形成应变通道之方法,包括下列步骤:提供一电晶体,该电晶体包括:一闸极堆叠物,具有设置于一半导体基底上之一闸极;一对源极/汲极区,设置于邻近该闸极堆叠物之对应侧之该半导体基底内;以及一间隔物,对应地设置于该闸极堆叠物之一侧壁上。接着形成一保护层,覆盖该闸极与该间隔物。接着于该些源极/汲极区内分别形成一凹陷区,其中该凹陷区之一边对准于该间隔物之一外侧边。接着于该些凹陷区内填入一应变诱发材料,以于介于该些源极/汲极区之间之该半导体基底内形成一应变通道区。
申请公布号 TWI385735 申请公布日期 2013.02.11
申请号 TW096125062 申请日期 2007.07.10
申请人 台湾积体电路制造股份有限公司 新竹市新竹科学工业园区力行六路8号 发明人 廖先钏;潘国华;陈永修;章勋明;林宜经
分类号 H01L21/336 主分类号 H01L21/336
代理机构 代理人 洪澄文 台北市南港区三重路19之6号2楼;颜锦顺 台北市南港区三重路19之6号2楼
主权项
地址 新竹市新竹科学工业园区力行六路8号