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经营范围
发明名称
蚀刻方法及蚀刻装置
摘要
本发明的一种蚀刻方法,属于对于在含矽材料所成的底层上形成有含钨材料所成的蚀刻对象层的被处理体,在可施以真空抽引的处理容器内存在电浆之状态下施加蚀刻处理的蚀刻方法,其特征为:作为上述蚀刻时的气体,使用含有氯气体及含有氧气体及含有氮气体。
申请公布号
TWI385721
申请公布日期
2013.02.11
申请号
TW094141915
申请日期
2005.11.29
申请人
东京威力科创股份有限公司 日本
发明人
西塚哲也
分类号
H01L21/306
主分类号
H01L21/306
代理机构
代理人
林志刚 台北市中山区南京东路2段125号7楼
主权项
地址
日本
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