发明名称 半导体装置及其制造方法、以及显示装置及其制造方法
摘要 本发明之半导体装置19-1具备:源极3s及汲极3d,其系设置于基板1上者;绝缘性隔壁5,其系具备第1开口5a且设置于基板1上者,该第1开口系到达源极3s及汲极3d之端部与该等电极3s-3d间;通道部半导体层7a,其系由从隔壁5之上部所成膜之半导体层7构成,以与隔壁5上之半导体层7断开之状态设置于第1开口5a之底部者;闸极绝缘膜9,其系从包含通道部半导体层7a之半导体层7上成膜于整个面者;及闸极11a,其系以重叠于通道部半导体层7a上之状态设置于闸极绝缘膜9上者。
申请公布号 TWI385806 申请公布日期 2013.02.11
申请号 TW097124893 申请日期 2008.07.02
申请人 新力股份有限公司 日本 发明人 八木岩
分类号 H01L29/786;G02F1/1368;H01L51/05 主分类号 H01L29/786
代理机构 代理人 陈长文 台北市松山区敦化北路201号7楼
主权项
地址 日本