测试板及其治具

摘要

一种测试板及其治具，其中该治具包括一机台，该机台上可供置放用以测试晶圆或封装IC之测试板，而该机台上设有第一、第二、第三与第四扣合件，前述各该扣合件系受一控制机构带动而可两两相向靠近，其中该测试板上之各个轴承系受到前述各该扣合件所属之第一、第二、第三与第四导沟导引抵压至各个导沟之水平段内，藉以使测试板与机台上之基板达到妥适之组接效果。