发明名称 |
含矽膜的低温沉积方法 |
摘要 |
本发明揭示于低沉积温度下形成氮化矽、氧氮化矽、氧化矽、掺碳的氮化矽、掺碳的氧化矽及掺碳的氧氮化物膜之方法。用于此沉积的含矽前驱物为单氯矽烷(MCS)及单氯烷基矽烷类。本发明较佳为经由使用电浆强化原子层沉积法、电浆强化化学气相沉积法及电浆强化循环化学气相沉积法进行。 |
申请公布号 |
TWI385270 |
申请公布日期 |
2013.02.11 |
申请号 |
TW098120784 |
申请日期 |
2009.06.20 |
申请人 |
气体产品及化学品股份公司 美国;东京电子有限公司 日本 |
发明人 |
杨柳;雷新建;韩冰;萧满超;喀瓦奇 伊真 约瑟;长谷部一秀;松永正信;米泽雅人;程汉颂 |
分类号 |
C23C16/34;C23C16/44;C23C16/513 |
主分类号 |
C23C16/34 |
代理机构 |
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代理人 |
陈展俊 台北市大安区和平东路2段203号4楼之2;林圣富 台北市大安区和平东路2段203号4楼之2 |
主权项 |
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地址 |
日本 |