发明名称 含矽膜的低温沉积方法
摘要 本发明揭示于低沉积温度下形成氮化矽、氧氮化矽、氧化矽、掺碳的氮化矽、掺碳的氧化矽及掺碳的氧氮化物膜之方法。用于此沉积的含矽前驱物为单氯矽烷(MCS)及单氯烷基矽烷类。本发明较佳为经由使用电浆强化原子层沉积法、电浆强化化学气相沉积法及电浆强化循环化学气相沉积法进行。
申请公布号 TWI385270 申请公布日期 2013.02.11
申请号 TW098120784 申请日期 2009.06.20
申请人 气体产品及化学品股份公司 美国;东京电子有限公司 日本 发明人 杨柳;雷新建;韩冰;萧满超;喀瓦奇 伊真 约瑟;长谷部一秀;松永正信;米泽雅人;程汉颂
分类号 C23C16/34;C23C16/44;C23C16/513 主分类号 C23C16/34
代理机构 代理人 陈展俊 台北市大安区和平东路2段203号4楼之2;林圣富 台北市大安区和平东路2段203号4楼之2
主权项
地址 日本