发明名称 SYSTEM FOR AUTOMATIC TESTING OF LARGE-SCALE INTEGRATED CIRCUITS
摘要
申请公布号 SU664178(A1) 申请公布日期 1979.05.25
申请号 SU19762395921 申请日期 1976.08.09
申请人 AZHOTKIN DMITRIJ ,SU;GAVRILOV SERGEJ A,SU;SKOVORODIN YURIJ V,SU;KUSHUL MARK S,SU;ABYASOV ADELSHA S,SU;KHVOSHCHENKO NINA A,SU;MARDER LYUDMILA P,SU 发明人 AZHOTKIN DMITRIJ ,SU;GAVRILOV SERGEJ A,SU;SKOVORODIN YURIJ V,SU;KUSHUL MARK S,SU;ABYASOV ADELSHA S,SU;KHVOSHCHENKO NINA A,SU;MARDER LYUDMILA P,SU
分类号 G05B23/02;G06F17/00;(IPC1-7):G06F15/46 主分类号 G05B23/02
代理机构 代理人
主权项
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