发明名称 Einrichtung und Verfahren zum Zählen von Photonen
摘要 Beschrieben ist eine Einrichtung (10, 50) zum Zählen von Photonen, mit einer Detektoreinheit (12), einer Schalteinheit (30, 52), eine Abtasteinheit (36, 58), einer Seriell-/Parallel-Wandlereinheit (40) und einer Auswerteeinheit (49, 62). Die Schalteinheit (30, 52) wird mit einem von Detektoreinheit (12) erzeugten Detektionssignal (26) beaufschlagt. Die Abtasteinheit (36, 58) tastet ein von der Schalteinheit (30, 52) erzeugtes Zustandssignal (32, 56) ab und erzeugt so serielle Abtastdaten. Die Seriell-/Parallel-Wandlereinheit (40) fasst die seriell erzeugten Abtastdaten zu Abtastdatenpaketen zusammen. Die Auswerteeinheit (49, 62) wird mit einem vorbestimmten Arbeitstakt betrieben, der kleiner als die Abtastfrequenz der Abtasteinheit (36, 58) ist. Die Auswerteeinheit (49, 58) wertet innerhalb jedes durch den Arbeitstakt festgelegten Taktzyklus die n-Bit-Binärwerte jeweils mindestens eines der Abtastdatenpakete zur Ermittlung eines Teilzählergebnisses aus und summiert die in den einzelnen Taktzyklen ermittelten Teilzählergebnisse zu einem Gesamtzählergebnis auf, das die Anzahl der detektierten Photonen angibt.
申请公布号 DE102011052334(A1) 申请公布日期 2013.02.07
申请号 DE20111052334 申请日期 2011.08.01
申请人 LEICA MICROSYSTEMS CMS GMBH 发明人 WIDZGOWSKI, BERND
分类号 G01J1/00;G01T1/15;G01T1/17 主分类号 G01J1/00
代理机构 代理人
主权项
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