发明名称 |
一种用于补偿晶振老化的方法 |
摘要 |
本发明提出了一种可用于补偿晶振老化的方法,该方法利用晶振的老化规律对晶振的老化进行补偿。该方法的典型结构由四部分组成,包括:计时装置、计算单元、存储单元和晶振。其中,计时装置用于记录晶振的使用时间;计算单元根据晶振使用时间和存储单元值进行老化曲线拟合,并生产补偿数据;存储单元用于存储晶振的老化值;晶振为被补偿件。 |
申请公布号 |
CN102916654A |
申请公布日期 |
2013.02.06 |
申请号 |
CN201210411978.8 |
申请日期 |
2012.10.25 |
申请人 |
北京七芯中创科技有限公司 |
发明人 |
不公告发明人 |
分类号 |
H03B5/04(2006.01)I;G01R31/00(2006.01)I |
主分类号 |
H03B5/04(2006.01)I |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
一种用于补偿晶振老化的方法,其特征在于该方法是利用已知的晶振老化规律对晶振的老化进行补偿,典型结构由四部分组成计时装置、计算单元、存储单元和晶振四部分组成,计时装置记录时间信息并送入计算单元;计算单元根据晶振使用时间和存储单元值进行老化曲线拟合,生产补偿数据,送入被补偿件晶振,存储单元用于存储晶振的老化值,晶振为被补偿件,计算单元、计时装置、存储单元和晶振的相互连接,组成晶振老化补偿的功能电路。 |
地址 |
100029 北京市朝阳区北辰西路69号峻峰华亭A座202 |