发明名称 |
基于氧化钒/氧化锌叠层结构的阻变存储器及其制备方法 |
摘要 |
一种基于氧化钒/氧化锌叠层结构的阻变存储器,由下电极、阻变层和上电极构成,阻变层为由氧化钒介质层和氧化锌介质层组成的叠层结构,氧化钒介质层和氧化锌介质层薄膜采用直流溅射或射频溅射法制备。本发明的优点是:该阻变存储器采用氧化钒/氧化锌叠层结构,具有氧化锌双极性和单极性极性可控的优势,提高了器件的一致性和重复性;与单层氧化钒相比,reset电流降到了10mA以下;在双极性测试过程中,具有一个渐进的reset过程,可以通过不同振幅的reset电压而得到不同的高阻态的电阻,至少可以获得3个电阻值,并且每个电阻值之间有10倍以上的阻值比,因而可以将其应用于多值存储。 |
申请公布号 |
CN102916129A |
申请公布日期 |
2013.02.06 |
申请号 |
CN201210440132.7 |
申请日期 |
2012.11.07 |
申请人 |
天津理工大学 |
发明人 |
张楷亮;孙阔;王芳;陆涛;刘凯;武长强;赵金石 |
分类号 |
H01L45/00(2006.01)I;G11C13/00(2006.01)I |
主分类号 |
H01L45/00(2006.01)I |
代理机构 |
天津佳盟知识产权代理有限公司 12002 |
代理人 |
侯力 |
主权项 |
一种基于氧化钒/氧化锌叠层结构的阻变存储器,其特征在于:由下电极、阻变层和上电极构成,阻变层为由氧化钒介质层和氧化锌介质层组成的叠层结构,氧化锌的成分为ZnO1‑x,其中0<x<0.5,氧化锌介质层的厚度为1‑500nm;氧化钒的成分为VOy,其中0.5<y<2.5,氧化钒介质层的厚度为1‑500nm。 |
地址 |
300384 天津市西青区宾水西道391号天津理工大学主校区 |