| 发明名称 | 在高频基础上确定材料厚度的方法和装置 | ||
| 摘要 | 本发明涉及用于透过物质确定材料厚度的方法、特别是用于测量墙壁、天花板和地板的厚度的方法，在该方法中借助于一个高频发射机(24)在GHz频率范围内的测量信号(28)至少一次穿过要检查的物质(10)并且由高频接收机(38)检测该测量信号(28)。根据本发明建议，从在高频发射机(24)和/或高频接收机(34)的不同位置(20、22)上测量的、测量信号的至少两个渡越时间中确定物质(10)的材料厚度(d).此外本发明涉及用于实施上述方法的设备系统(12；40、140、240、340)。 | ||
| 申请公布号 | CN1977143B | 申请公布日期 | 2013.02.06 |
| 申请号 | CN200580022009.1 | 申请日期 | 2005.06.09 |
| 申请人 | 罗伯特·博世有限公司 | 发明人 | M·马勒;U·霍夫曼;R·克拉普夫;C·维兰;F·维韦尔斯 |
| 分类号 | G01B7/06(2006.01)I | 主分类号 | G01B7/06(2006.01)I |
| 代理机构 | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人 | 刘春元;魏军 |
| 主权项 | 用于透过物质确定材料厚度的方法，其中，借助于一个高频发射机(24)使在GHz频率范围内的测量信号(28)至少一次穿过有待检查的物质(10)并且由高频接收机(38)检测该测量信号(28)，其特征在于，从在高频发射机(24)和/或高频接收机(34)的不同位置(20、22)上测量的测量信号的至少两个渡越时间中确定物质(10)的材料厚度(d)，其中，所述高频发射机(24)和高频接收机(38)运行在物质(10)的一个公共的第一表面(14)上，其中借助于反射介体(18)把高频发射机(24)的测量信号返回到高频接收机(38)。 | ||
| 地址 | 德国斯图加特 | ||