发明名称 |
三极管测试方法 |
摘要 |
本发明涉及一种三极管测试方法,包括:S1:限定三极管的集电极电流Ic的取值范围是100μA-10mA;S2:测试三极管的放大倍数β;S3:判断β是否大于或等于5,如果是,则表示该三极管合格,如果否,则表示该三极管不合格。采用该三极管测试方法测试后的三极管完全满足电路要求,在输入不同电压情况下,充电器均可正常工作。 |
申请公布号 |
CN101625393B |
申请公布日期 |
2013.02.06 |
申请号 |
CN200910109150.5 |
申请日期 |
2009.07.29 |
申请人 |
深圳市晶导电子有限公司 |
发明人 |
高燕辉;韩玉喜;王明珠 |
分类号 |
G01R31/26(2006.01)I |
主分类号 |
G01R31/26(2006.01)I |
代理机构 |
广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 |
代理人 |
何平 |
主权项 |
一种用于RCC工作模式的手机充电器电路中作为功率自激震荡元件的三极管测试方法,包括:S1:限定三极管的集电极电流Ic为1mA或300μA;S2:测试三极管的放大倍数β;S3:判断β是否大于或等于5,如果是,则表示该三极管合格,如果否,则表示该三极管不合格。 |
地址 |
518101 广东省深圳市宝安区新安街道留仙二路鸿辉工业园三号厂房1-4层 |