| 发明名称 | 辐射热计及其制造方法 | ||
| 摘要 | 在衬底(101)上形成聚合物膜(102)，在聚合物膜(102)上形成热敏电阻器(106)，并在热敏电阻器(106)与衬底(101)之间形成光反射膜(104)。因此，如果红外线或太赫兹波从上方入射，则一部分被热敏电阻器(106)吸收，并且大部分透过聚合物膜(102)并被光反射膜(104)反射。当热敏电阻器(106)与光反射膜(104)之间的距离是d时，具有用d＝1/4表示且等于或小于1的波长的光分量谐振并变为热量，并且热敏电阻器(106)的温度上升。检测随着热敏电阻器(106)的温度上升的电阻变化，从而检测红外线或太赫兹波的强度。 | ||
| 申请公布号 | CN102918369A | 申请公布日期 | 2013.02.06 |
| 申请号 | CN201180025093.8 | 申请日期 | 2011.05.11 |
| 申请人 | 日本电气株式会社 | 发明人 | 成田薰 |
| 分类号 | G01J1/02(2006.01)I;H01C7/02(2006.01)I;H01L37/00(2006.01)I | 主分类号 | G01J1/02(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京东方亿思知识产权代理有限责任公司 11258 | 代理人 | 李晓冬 |
| 主权项 | 一种辐射热计，包括：衬底；在所述衬底上形成的绝热层；在所述绝热层上形成的热敏电阻器；以及在所述热敏电阻器与所述衬底之间形成的光反射膜。 | ||
| 地址 | 日本东京都 | ||