发明名称 半导体激光器光束特性测试装置及测试方法
摘要 本发明提出了一种简便实用的半导体激光器光束特性测试装置及测试方法。该半导体激光器光束特性测试装置,包括半圆形光束接收装置和旋转驱动机构;半导体激光器的输出端位于该半圆形光束接收装置的圆心,半圆形光束接收装置面向半导体激光器安装有多个光接收器,各个光接收器分别接有微型探测器;以半导体激光器的输出光束的光轴为旋转轴,半圆形光束接收装置或半导体激光器由所述旋转驱动机构驱动旋转。本发明能够得到整个激光器光束特性实时曲线,并直观地描述激光器的光束特性,从而实现对半导体激光器的空间光束特性参数的测量。
申请公布号 CN102914420A 申请公布日期 2013.02.06
申请号 CN201210382030.4 申请日期 2012.10.10
申请人 西安炬光科技有限公司 发明人 张普;刘兴胜;吴迪;宗恒军
分类号 G01M11/02(2006.01)I 主分类号 G01M11/02(2006.01)I
代理机构 西安智邦专利商标代理有限公司 61211 代理人 陈广民
主权项 半导体激光器光束特性测试装置,包括半圆形光束接收装置和旋转驱动机构;半导体激光器的输出端位于该半圆形光束接收装置的圆心,半圆形光束接收装置面向半导体激光器安装有多个光接收器,各个光接收器分别接有微型探测器;以半导体激光器的输出光束的光轴为旋转轴,半圆形光束接收装置或半导体激光器由所述旋转驱动机构驱动旋转。
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