发明名称 磷光膜、成像组件及检查方法
摘要 提供一种适应性强的成像组件(20)。适应性强的成像组件(20)包括配置成接收入射辐射以及发出相应光信号的自立式磷光膜(10)。电子装置(12)耦合到自立式磷光膜(10)。电子装置(12)配置成接收来自自立式磷光膜(10)的光信号并且产生成像信号。还提供一种自立式磷光膜(10),它包括在聚硅氧烷粘合剂中散布的x射线磷光体颗粒。还提供一种用于检验构件的方法,包括使构件和自立式磷光膜受到辐射(22),采用自立式磷光膜(10)产生相应光信号(24),采用耦合到自立式磷光膜(10)的电子装置(12)接收光信号(26),以及采用电子装置(12)产生成像信号(28)。
申请公布号 CN102915785A 申请公布日期 2013.02.06
申请号 CN201210425509.1 申请日期 2006.03.23
申请人 通用电气公司 发明人 V.马尼范南;C.布伊诺;S.J.杜克洛斯;S.J.斯拓洛萨;D.阿尔巴利;P.A.麦康尼利
分类号 G21K4/00(2006.01)I;C09K11/02(2006.01)I;C09K11/78(2006.01)I 主分类号 G21K4/00(2006.01)I
代理机构 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人 柯广华;朱海煜
主权项 一种适应性强的成像组件(20),包括:自立式磷光膜(10),配置成接收入射辐射以及发出多个相应的光信号,其中所述自立式磷光膜(10)包括在聚硅氧烷粘合剂中散布的多个x射线磷光体颗粒;以及电子装置(12),耦合到所述自立式磷光膜,其中所述电子装置配置成接收来自所述自立式磷光膜(10)的光信号,并且产生成像信号,其中,所述自立式磷光膜包括混合磷光体,其中包含至少两种不同的磷光体。
地址 美国纽约州