一种用于测量光学双折射媒介中偏振串扰的方法及其设备

摘要

本发明涉及一种用于测量光学双折射媒介中偏振串扰的方法和装置，该方法包括：将线性偏振光耦合入光学双折射媒介中，并在其中产生一光信号；将该光信号接入一干涉仪，获取两正交偏振模间光干涉信号；对所获取的光干涉信号进行处理，获得含有双折射色散影响的光学双折射媒介中两正交偏振模间偏振串扰点的包络谱函数；对包络谱函数测量，得出光学媒介中的双折射色散参数，再用求得的包络宽度展宽补偿函数对包络谱函数的展宽进行修正，得到修正后的包络谱函数，通过该修正后的包络谱函数获得光学双折射媒介中偏振串扰。本发明可消除因为双折射色散引起的包络谱展宽带来的对测量精度的不良影响。

主权项

一种用于测量光学双折射媒介中偏振串扰的方法，其特征在于，该方法包括以下步骤：1）将宽带光源输出的线性偏振光耦合入一具有保持传输光两正交偏振模的功能的光学双折射媒介中，并在该光学双折射媒介中产生一光信号；2）将该光信号接入一干涉仪，获取两正交偏振模间光干涉信号；3）对所获取的光干涉信号进行处理，获得光学双折射媒介中含有双折射色散影响的两正交偏振模间偏振串扰点的包络谱函数；4）基于对步骤3）获得的含有双折射色散影响的包络谱函数测量，得出光学媒介中的双折射色散参数，基于该双折射色散参数求得包络宽度展宽补偿函数，利用该包络宽度展宽补偿函数对该含有双折射色散影响的包络谱函数的展宽进行修正，得到消除了双折射色散影响的包络谱函数，通过该修正后的包络谱函数获得光学双折射媒介中偏振串扰。