发明名称 低损耗电阻测试装置
摘要 本实用新型公开了一种低损耗电阻测试装置,用于快速检测电阻的阻值,且该电阻两端分别设有接脚,该低损耗电阻测试装置包括基座板,基座板上设有电阻表和左铜带、右铜带,其中,电阻表的2个端子分别连接左铜带和右铜带,且左铜带和右铜带呈“八”字型分布,所述左铜带和右铜带之间设有滑块,滑块上设有容纳槽,容纳槽的两端设有保护槽,其中,电阻放置于容纳槽内,且2个接脚分别和2个保护槽相配。本实用新型所具有的优点是:检测电阻阻值速度较快、电阻的损耗率较低。
申请公布号 CN202720275U 申请公布日期 2013.02.06
申请号 CN201220379400.4 申请日期 2012.08.02
申请人 泰州市双宇电子有限公司 发明人 阮献忠
分类号 G01R27/02(2006.01)I 主分类号 G01R27/02(2006.01)I
代理机构 代理人
主权项 低损耗电阻测试装置,用于快速检测电阻(100)的阻值,且该电阻(100)两端分别设有接脚(101),该低损耗电阻测试装置包括基座板(10),基座板(10)上设有电阻表(20)和左铜带(31)、右铜带(32),其中,电阻表(20)的2个端子分别连接左铜带(31)和右铜带(32),且左铜带(31)和右铜带(32)呈“八”字型分布,其特征在于:所述左铜带(31)和右铜带(32)之间设有滑块(40),滑块(40)上设有容纳槽(41),容纳槽(41)的两端设有保护槽(411),其中,电阻(100)放置于容纳槽(41)内,且2个接脚(101)分别和2个保护槽(411)相配。
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