| 摘要 |
本发明揭示一种座标检测器之制造方法，该座标检测器具有形成于由一绝缘材料形成之一基板上的一电阻膜及用于施加一电压于该电阻膜的一共同电极。该基板包括四边形形状。该方法包括下列步骤：a)藉由移除沿该基板之一周边边缘提供的该电阻膜之预定第一区来形成第一电阻膜移除区；b)于该等第一电阻膜移除区上形成该共同电极；c)施加电压于该电阻膜；d)测量该电阻膜之一电位；e)依据该测量电位来计算第二电阻膜移除区资料；以及f)藉由依据计算的第二电阻膜区资料而照射一雷射束至该电阻膜之预定第二区而形成第二电阻膜移除区。 |
