发明名称 |
振动位移与振动频率决定方法与其装置 |
摘要 |
一种干涉振动位移决定方法,透过具有相位差之高同调干涉图案上之光讯号,取得待测物与干涉装置上之一参考面之间之位置偏移量。利用前述之方法重复进行复数次的量测之后,建立出偏移量与时间之关系序列,再根据该序列决定出该待测物之振动频率。在另一实施例中,揭露一干涉装置,其系利用光学干涉条纹判定的技术,即时计算出待测物与干涉装置上之一参考面之相对位置,进而即时补偿干涉装置受到振动时之影响,以得到待测物表面形貌与振动频率。 |
申请公布号 |
TWI384195 |
申请公布日期 |
2013.02.01 |
申请号 |
TW097138634 |
申请日期 |
2008.10.08 |
申请人 |
财团法人工业技术研究院 新竹县竹东镇中兴路4段195号;国立台北科技大学 台北市大安区忠孝东路3段1号 |
发明人 |
陈金亮;陈亮嘉;黄焕祺;连俊泰;邹永桐;赖皇文 |
分类号 |
G01B11/24;G01B9/02 |
主分类号 |
G01B11/24 |
代理机构 |
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代理人 |
刘纪盛 台北市信义区松德路171号2楼;谢金原 台北市信义区松德路171号2楼 |
主权项 |
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地址 |
台北市大安区忠孝东路3段1号 |