发明名称 振动位移与振动频率决定方法与其装置
摘要 一种干涉振动位移决定方法,透过具有相位差之高同调干涉图案上之光讯号,取得待测物与干涉装置上之一参考面之间之位置偏移量。利用前述之方法重复进行复数次的量测之后,建立出偏移量与时间之关系序列,再根据该序列决定出该待测物之振动频率。在另一实施例中,揭露一干涉装置,其系利用光学干涉条纹判定的技术,即时计算出待测物与干涉装置上之一参考面之相对位置,进而即时补偿干涉装置受到振动时之影响,以得到待测物表面形貌与振动频率。
申请公布号 TWI384195 申请公布日期 2013.02.01
申请号 TW097138634 申请日期 2008.10.08
申请人 财团法人工业技术研究院 新竹县竹东镇中兴路4段195号;国立台北科技大学 台北市大安区忠孝东路3段1号 发明人 陈金亮;陈亮嘉;黄焕祺;连俊泰;邹永桐;赖皇文
分类号 G01B11/24;G01B9/02 主分类号 G01B11/24
代理机构 代理人 刘纪盛 台北市信义区松德路171号2楼;谢金原 台北市信义区松德路171号2楼
主权项
地址 台北市大安区忠孝东路3段1号