发明名称 测试装置
摘要 一种测试装置,适于测试不同种类的多个待测板。此测试装置包括一可编程测试平台以及一储存单元。可编程测试平台包括一可编程系统晶片、一记忆单元与一输入/输出单元,其中记忆单元是电性连接至可编程系统晶片,且记忆单元内存有一作业系统。输入/输出单元是电性连接至可编程系统晶片、待测板其中之一以及储存单元。输入/输出单元适于根据一输入动作产生一启动讯号,而可编程系统晶片适于根据启动讯号来选取一预设的测试流程,并依预设的测试流程对电性连接至输入/输出单元的待测板进行测试。储存单元是用以储存可编程系统晶片所输出的一测试结果。此测试装置能降低测试成本且能减少测试时间。
申请公布号 TWI384235 申请公布日期 2013.02.01
申请号 TW097111908 申请日期 2008.04.01
申请人 环旭电子股份有限公司 中国;环鸿科技股份有限公司 南投县草屯镇太平路1段351巷141号 发明人 蔡竹青;许家荣
分类号 G01R31/01;G06F9/44 主分类号 G01R31/01
代理机构 代理人 杨代强 台北市文山区罗斯福路6段407号4楼
主权项
地址 南投县草屯镇太平路1段351巷141号